Prüfsysteme für die Elektronik-Industrie
Passive Thermografie wird oft im Elektronikbereich eingesetzt, wenn es um die Messung von Verlustleistungen geht (Dissipation). Die aktive Thermografie kann darüberhinaus Fehler in Baugruppen und Bauteilen lokalisieren und das in sehr hoher örtlicher Auflösung. Durch die Lockin-Technik lassen sich extrem kleine Temperaturunterschiede im µK Bereich nachweisen.
Elektronik-Prüfung auf den Punkt gebracht
Fehler in Halbleitern lassen sich mittels dissipiierter Energie oder anhand des foto-elektrischen Effekts nachweisen. Beides kann die aktive Thermografie leisten. Dabei wird der Wellenlängenbereich des Sensors (Infrarotkamera) der Aufgabenstellung angepasst. Resultierend daraus lassen sich örtliche Auflösungen im µm Bereich erzielen.
Typische Anwendungen der Elektronikprüfung
Schadensanalyse an passiven oder aktiven Bauteilen, schnelle Fehlerlokalisierung in komplexen Baugruppen, Messung von Effizienz anhand thermischer Verluste: in all diesen Anwendungen kommt die Thermografie zum Einsatz.
